梅特勒-托利多XS分析天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。

仪器特点/功能：
1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；
2. 具有中文界面的触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
3. 网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；
4. 全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
5. Z小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)；
6. 显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
7. 标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；

ž技术参数：
型号 Z大称量值/可读性
XS105DU 0~41g/0.01mg,0~120g/0.1mg
XS205DU 0~81g/0.01mg,0~220g/0.1mg
XS64 61g/0.1mg
XS104 120g/0.1mg
XS204 220g/0.1mg
XS204DR 81g/0.1mg,220g/1mg

应用领域：
梅特勒-托利多XS分析天平，则是食品化工行业，关注至高称量效率，易于清洁的理想选择。

主要型号：
XS105DU, XS205DU, XS64, XS104, XS204, XS204DR